Связаться

Полуавтоматическая зондовая станция Semishare X6/X8/X12

Полуавтоматическая зондовая станция Semishare X6/X8/X12

Цена по запросу

Полуавтоматическая зондовая станция серии SEMISHARE X предназначена для установки электрода пробоотборника через зонд или плату зонда при температурах от -60 ℃ до 300 ℃. Она позволяет подключать тестовое оборудование для измерения электрических сигналов, управлять и анализировать их, а также сохранять данные с помощью программного обеспечения. Полученные результаты передаются в струйную систему для маркировки дефектных чипов (матриц).

В корзину

Описание

Характеристики

Полуавтоматическая зондовая станция Semishare X6/X8/X12 описание

Полуавтоматическая зондовая станция серии SEMISHARE X предназначена для установки электрода пробоотборника через зонд или плату зонда при температурах от -60 ℃ до 300 ℃. Она позволяет подключать тестовое оборудование для измерения электрических сигналов, управлять и анализировать их, а также сохранять данные с помощью программного обеспечения. Полученные результаты передаются в струйную систему для маркировки дефектных чипов (матриц).

Методика маркировки может быть адаптирована под требования заказчика.

После завершения тестирования одного чипа (матрицы) платформа автоматически перемещается к следующему, продолжая циклическое тестирование с использованием программного управления.

Преимущества:

• Рабочая скорость до 70 мм/с, что увеличивает эффективность тестирования более чем на 40%.

• Широкий температурный диапазон от -60℃ до 300℃.

• Современная оптическая система с многократным увеличением для высокоточных измерений и динамического мониторинга, упрощающая наведение иглы.

• Круглосуточное тестирование на чипе при любых погодных условиях (24/7).

• Собственная интегрированная система программного обеспечения, обеспечивающая высокую совместимость.

Характеристики микропозиционера:

• Утечка тока:
Коаксиальный: 1 пА/В при 25 °C
Трехкоаксиальный: 100 фА/В при 25 °C
Трехкоаксиальный: 10 пА при 3 кВ при 25 °C
Условия испытаний: сухая среда для заземляющего экрана (точка росы воздуха ниже -40 °C)

• Тип разъема:
Адаптеры с разъемами типа "банан", коаксиальный, трехосевой, SMA, SHV и другие.

Оптическая система: Микроскоп с трехступенчатым увеличением 15:1, позволяющий одновременно получать изображения с низким, средним и высоким увеличением для удобного наведения иглы.

Область применения: Поддерживает тестирование пластин из SiC/GaN, мощных пластин, а также имеет сменную конструкцию патрона для тестирования различных типов пластин.

За более подробной информацией и помощью в подборе оборудования Вы можете обращаться к нашим менеджерам любым удобным способом: воспользоваться формой обратной связи на сайте, по телефону: +7 (383) 203-10-00 или по e-mail: info@alfa-instr.ru.

Полуавтоматическая зондовая станция Semishare X6/X8/X12 характеристики

Диапазон перемещения XY: 350mm*365mm

Разрешение XY: 0.1μm

Повторяемость XY: ≦±1μm

Скорость перемещения XY: ≦70mm/s

Z Диапазон перемещения: 20mm

Z Разрешение: 0.1μm

Z Повторяемость: ≦±1μm

Z Скорость перемещения: ≦20mm/s

Диапазон: -60°C-300°C

Стабильность: 0.1°C

Разрешение: 0.01°C

СЕРИЯ: X

Функции программного обеспечения
• Поддержка полуавтоматического управления (возможен ручной тест или переход на автоматический)
• Автоматическое выравнивание пластин
• Автоматическое измерение размера матрицы
• Автоматическое картирование пластин и удаленный доступ к данным
• Свободное управление и программирование входных и выходных параметров
• Быстрая интеграция нескольких тестеров
• Автоматическая радиочастотная калибровка одной кнопкой, функция автоматической очистки иглы
• Операционная система и приложения полностью разделены; операционная система, операционная система, прикладная система и система тестирования устройств могут быть модернизированы независимо друг от друга
• Поддержка тестирования по одной точке и непрерывного тестирования
• Автоматическое сохранение данных и кривых, синхронная обработка данных
• Классификация результатов тестирования по различным значениям бинов и отображение их разным цветом на карте пластин
• Контроль предельной скорости и блокировка безопасности